什么是數(shù)字器件的功能性測(cè)試和參數(shù)測(cè)試？
數(shù)字器件的功能測(cè)試是考核數(shù)字器件在規(guī)定的測(cè)試條件下（如電源電壓、輸入驅(qū)動(dòng)電壓、輸出判據(jù)電壓）完成規(guī)定邏輯功能（測(cè)試向量）的能力。只能完成功什么是數(shù)字器件的功能性測(cè)試和參數(shù)測(cè)試？
數(shù)字器件的功能測(cè)試是考核數(shù)字器件在規(guī)定的測(cè)試條件下（如電源電壓、輸入驅(qū)動(dòng)電壓、輸出判據(jù)電壓）完成規(guī)定邏輯功能（測(cè)試向量）的能力。只能完成功能性測(cè)試的測(cè)試儀稱為功能測(cè)試儀。數(shù)字器件僅進(jìn)行功能測(cè)試是遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠的，市場(chǎng)上的不合格數(shù)字器件大多是邏輯功能合格，參數(shù)不合格，因此必須進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。
什么是數(shù)字器件的參數(shù)測(cè)試？
數(shù)字器件的參數(shù)測(cè)試分為靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試和動(dòng)態(tài)交流參數(shù)測(cè)試兩部分，靜態(tài)直流參數(shù)主要是定量考核數(shù)字器件的輸入性能（鉗位電壓、輸入電流等），輸出性能（高低電平、驅(qū)動(dòng)電流、短路電流、輸出及三態(tài)漏電等）以及靜態(tài)功耗（電源電流）等。動(dòng)態(tài)交流參數(shù)主要考核器件的動(dòng)態(tài)轉(zhuǎn)輸特性和門延，在實(shí)際測(cè)試當(dāng)中通常采用邊沿定時(shí)的高速功能測(cè)試來(lái)考核數(shù)字器件的交流參數(shù)，而不是精確去測(cè)試門沿的實(shí)際時(shí)間，因?yàn)檫@樣做測(cè)試速度太慢。
對(duì)于中小規(guī)模數(shù)字器件致少應(yīng)進(jìn)行靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試，對(duì)于大規(guī)模數(shù)字器件除直流參數(shù)外，則推薦進(jìn)行動(dòng)態(tài)交流參數(shù)測(cè)試。交流參數(shù)的定時(shí)精度致少達(dá)到1nS才具有實(shí)際的意義。
大型和小型數(shù)字系統(tǒng)有什么差別？
大型和小型數(shù)字系統(tǒng)的區(qū)別主要體現(xiàn)在測(cè)試的通道數(shù)、測(cè)試頻率、定時(shí)精度、圖形深度及算法圖形發(fā)生器等方面，小型數(shù)字系統(tǒng)大都只具備直流參數(shù)測(cè)試能力，而不具備交流參數(shù)的測(cè)試能力。
小型測(cè)試系統(tǒng)能測(cè)CPU嗎？
約束CPU測(cè)試的硬件條件主要是測(cè)試通道數(shù)和交流參數(shù)測(cè)試能力，但更主要的是軟件條件約束了CPU的測(cè)試。在用戶系統(tǒng)中，CPU的工作程序是由用戶自行開(kāi)發(fā)的，為證明CPU邏輯功能的正常，測(cè)試程序必須覆蓋CPU的指令集和CPU的各種失效模式，開(kāi)發(fā)CPU的測(cè)試向量是一件工作量極大而又非常復(fù)雜、煩瑣的工作，一般不在小型數(shù)字系統(tǒng)上完能。
小型測(cè)試系統(tǒng)能測(cè)存貯器嗎？
存貯器的正規(guī)測(cè)試需要采用算法圖形發(fā)生器產(chǎn)生各種存貯器專用測(cè)試圖形（測(cè)試向量）進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)由于存貯器的工作頻率（速度）是存貯器用于分檔的重要參數(shù)，因此存貯器的交流參數(shù)測(cè)試是非常必要的，小型測(cè)試系統(tǒng)由于大都不具備算法圖型發(fā)生器和交流參數(shù)測(cè)試能力，通常只是完成簡(jiǎn)單的存取功能和直流參數(shù)測(cè)試，因此是不夠嚴(yán)密的。所以能否測(cè)試存貯器主要取決于系統(tǒng)是否有算法圖形發(fā)生器，是否具有nS級(jí)精度的交流參數(shù)測(cè)試能力，而不在于測(cè)試系統(tǒng)規(guī)模的大小。
如何評(píng)價(jià)數(shù)字系統(tǒng)的直流參數(shù)測(cè)試能力？
數(shù)字系統(tǒng)的直流參數(shù)測(cè)試能力通常由引腳驅(qū)動(dòng)器、引腳比較器、直流參數(shù)測(cè)量單元和程控電源等幾部分的范圍、精度、分辨力決定。作為數(shù)字器件的測(cè)量精度，一般優(yōu)于百分之一即可基本滿足需要。
由于數(shù)字器件向低能耗的方向發(fā)展，CMOS工藝的器件成為數(shù)字器件的主流，對(duì)于CMOS工藝的器件，輸入電流和功耗電流的測(cè)試是考核其質(zhì)量的重要項(xiàng)目，對(duì)于國(guó)軍標(biāo)CMOS電路的測(cè)試要求則更高，因此對(duì)微小電流的測(cè)試一般要求測(cè)試系統(tǒng)具有1nA的測(cè)試分辨力和10nA的測(cè)試精度。詳見(jiàn)《國(guó)軍標(biāo)CMOS電路的輸入電流和電源電流測(cè)試》。
如果要完成CD4000系列電路的測(cè)試，系統(tǒng)的電源電壓、驅(qū)動(dòng)電壓、比較電壓和測(cè)量單元電壓應(yīng)能達(dá)到20V，但由于國(guó)外已基本不再使用高電壓邏輯的數(shù)字器件，因此很多國(guó)外測(cè)試系統(tǒng)己不再支持高電壓邏輯的數(shù)字器件的測(cè)試，這也是選擇數(shù)字系統(tǒng)應(yīng)注意的問(wèn)題。
如何評(píng)價(jià)數(shù)字系統(tǒng)的交流參數(shù)測(cè)試能力？
一般認(rèn)為定時(shí)精度達(dá)到1nS才可以說(shuō)系統(tǒng)具有交流參數(shù)的測(cè)試能力，因?yàn)樽畛Ｓ玫耐ㄓ弥行∫?guī)模數(shù)字電路，其時(shí)間參數(shù)大約在幾納秒到十幾納秒。而測(cè)試系統(tǒng)的主頻則不一定要高于被測(cè)器件的工作頻率，因?yàn)樵诮涣鲄?shù)測(cè)試時(shí)，一般不在器件的最高工作頻率下完成，對(duì)于最高工作頻為幾十兆的器件，只要測(cè)試系統(tǒng)具有足夠的定時(shí)精度，在幾兆的頻率下完全可以判斷其交流參數(shù)是否合格。過(guò)于追求測(cè)試系統(tǒng)的主頻帶來(lái)的將是昂貴的價(jià)格。
小型測(cè)試系統(tǒng)為什么在測(cè)試某些有時(shí)鐘端的器件時(shí)會(huì)不可靠？
于小型測(cè)試系統(tǒng)的引腳驅(qū)動(dòng)及比較電路較為簡(jiǎn)單，因此輸入驅(qū)動(dòng)波形的前后沿不夠陡直，脈沖的頂部和底部又不夠平坦，加上引腳間的分布參數(shù)（分布電容、電感）較為復(fù)雜，因此在測(cè)試過(guò)程中那些有時(shí)鐘的器件有時(shí)會(huì)造成不觸發(fā)或誤觸發(fā)的情況。特別是對(duì)于高速器件和噪聲容限較差的器件，這一問(wèn)題更為突出。當(dāng)然同樣是小型測(cè)試系統(tǒng)，情況也不盡相同，但與采用測(cè)試頭結(jié)構(gòu)的大型測(cè)試系統(tǒng)相比總是稍有遜色。因此在測(cè)試中碰到類似問(wèn)題，需要做一些分析，不能簡(jiǎn)單判斷為器件不合格。
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