全球大規(guī)模、高規(guī)格的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)年度盛會“SEMICON China 2021國際半導(dǎo)體展”在上海開展。SEMICON China 是極具影響的集成電路產(chǎn)業(yè)盛會之一，作為集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的重要參與者，公司在專業(yè)領(lǐng)域深耕多年，具有深厚的技術(shù)實(shí)力與市場儲備。
公司自成立以來，在發(fā)展歷程中多次突破了技術(shù)壟斷，創(chuàng)造了我國行業(yè)內(nèi)里程碑式的技術(shù)突破：
產(chǎn)品1：DL系列測試機(jī)
DL2000是一臺大型集成電路測試系統(tǒng)，外形尺寸600mm x350mm x 600mm，最高測試速率200MHz，最高配置512個通道。該系統(tǒng)是以測試數(shù)字IC為主，整個平臺采用機(jī)柜加電纜的結(jié)構(gòu)設(shè)計，可兼容各種類型的機(jī)械手、探針臺、以及外掛表等設(shè)備。
DL2000旨在幫助您以較低的成本，實(shí)現(xiàn)測試效率以及測試穩(wěn)定性的提高和改善。該測試系統(tǒng)支持廣泛的業(yè)務(wù)，是實(shí)驗(yàn)室開發(fā)或大批量生產(chǎn)的理想選擇。
產(chǎn)品2：FL1000射頻電路老煉系統(tǒng)
該老化測試系統(tǒng)是自主研發(fā)的一款對X波段大功率微波管進(jìn)行直流中級、末級與射頻中級、末級老化的通用技術(shù)平臺，該平臺主要對大功率微波管進(jìn)行高溫動態(tài)老化，可提供室溫～200攝氏度的器件殼溫，可調(diào)占空比脈沖電流可達(dá)140A，電壓可達(dá)70V，老化脈沖功率可達(dá)到4500W，激勵的射頻信號可達(dá)到8~10GHz。
產(chǎn)品3：FL2000動態(tài)老煉測試系統(tǒng)
該系統(tǒng)提供對CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規(guī)模集成電路的高溫動態(tài)老化測試，將老化與電參數(shù)測試結(jié)合，在老化過程中可動態(tài)測試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
產(chǎn)品4：EL1000三溫機(jī)械手
ET1000 是一臺單 / 雙 SITE 的 P&P 測試分類機(jī)，可以支持多種封裝的芯片，如 BGA/QFN/TSOP 等，芯片尺寸從5X5-50X50mm。使用 EPSON 機(jī)械臂將 IC 從進(jìn)料區(qū)移至測試區(qū)，再根據(jù)測試結(jié)果進(jìn)行分類。不僅適用于電性測試，也可用于系統(tǒng)功能測試。針對不同的測試環(huán)境，提供三溫控制系統(tǒng)，無需液氮消耗，可以提供 -65℃~175℃ 的測試環(huán)境。切換產(chǎn)品僅需更換 Docking 與 Plunger 即可，縮短產(chǎn)品切換時間，是理想的產(chǎn)品工程和試驗(yàn)研發(fā)設(shè)備，適用于研究所、實(shí)驗(yàn)室等。
產(chǎn)品5：集成電路及模塊表面電磁場掃描探測系統(tǒng)
器件/模塊表面電磁場近場掃描系統(tǒng)，用于探測器件及模塊表面的電磁場。利用這些表面電磁場信息可以實(shí)現(xiàn)器件的電磁輻射發(fā)射評價、器件內(nèi)部電磁干擾源定位，借助電磁算法還可以進(jìn)一步獲得器件在特定環(huán)境下周圍的電磁場分布，并分析與其他器件（包括天線）之間的相互耦合作用，從而應(yīng)用于布局優(yōu)化器件/模塊表面電磁場近場掃描系統(tǒng)，用于探測器件及模塊表面間的相互耦合作用，從而應(yīng)用于布局優(yōu)化。
關(guān)于信諾達(dá)
公司成立于2008年，是集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)于一體的高新技術(shù)企業(yè)，被授予“國家高新技術(shù)企業(yè)”證書，在專業(yè)領(lǐng)域已獲得多項(xiàng)專利，并于2009年通過ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證。針對用戶的實(shí)際需求可量身為客戶提供優(yōu)質(zhì)的測試解決方案。公司秉承“敬業(yè)、奉獻(xiàn)、協(xié)同、創(chuàng)新”的精神，以先進(jìn)的科研技術(shù)、規(guī)范化的管理，竭誠為客戶提供高質(zhì)高效的測試服務(wù)。
2022年我們再見。
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